PFNC-CEA Grenoble

PFNC-CEA

La Plateforme de Nano-Caractérisation de Minatec (PFNC) regroupe au sein du CEA Grenoble plusieurs laboratoires et un parc d’équipements à l’état de l’art destinés à l’étude des matériaux à l’échelle du nanomètre. Cette plateforme est pilotée par trois instituts du CEA Grenoble : l’Institut Nanosciences et Cryogénie (Inac), le Laboratoire d’électronique et des technologies de l’information (Léti) et le Laboratoire d’innovation pour les énergies nouvelles et les nanomatériaux (Liten).

Sa vocation est de développer et de mettre en œuvre de nouveaux outils d’analyse structurale ou physico-chimique dans les domaines des nanosciences, des nanotechnologies, ou des matériaux pour les nouvelles énergies. Elle dispose pour cela d’un parc d’instruments performants,  acquis en particulier avec des fonds du programme national Recherche Technologique de Base. Dans la cadre de METSA, la PFNC ouvre à la communauté scientifique son Microscope FEI Titan Ultimate. Equipé d’un monochromateur, de deux correcteurs et d’une électronique stabilisée, celui-ci est particulièrement performant dans les domaines suivant :

  • La microscopie STEM et HRTEM haute résolution à haute tension (300 kV), mais aussi à basse tension (80 kV) pour les matériaux sensible (graphène et matériaux 2D, …)
  • La spectroscopie EELS et l’imagerie filtrée à haute-résolution (0.2 eV)
  • La tomographie STEM

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme PFNC-CEA, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

FEI Titan3 Ultimate

12 jours accès / an

 

  • HRTEM/STEM/EELS Haute Résolution
  • 80-300 kV - FEG
  • Double-correcteur Cs (sonde et image)
  • Monochromateur
  • Filtre Gatan QUANTUM (ultrafast dual EELS)
  • Caméra « One view »
  • HRTEM et STEM haute-résolution (0.5 A)
  • Microscopie basse tension pour matériaux 2D (80 kV)
  • EELS haute résolution (0.2 eV)
  • Tomographie
  • nanostructures semi-conductrices ou magnétiques
  • matériaux pour les nouvelles énergies
  • les matériaux 2D (graphène et TMDs)

 

FEI FIB "Strata"

10 jours accès / an

 
  • Préparation FIB de lames TEM
  • système ’Dual Beam’
  • Micro-manipulateur pour ’lift-out’