CLYM

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Le Consortium LYon - St-Etienne de Microscopie (CLYM, ex-Centre LYonnais de Microscopie) est une Fédération de Recherches créée en 2007 (FED 4092) et reconduite après évaluation positive par l’AERES depuis 2010. Le CLYM dispose de divers outils de microscopie, essentiellement en microscopie électronique (SEM / FIB / TEMs). La structure regroupe 13 laboratoires partenaires issus de nombreux établissements constituant la COMUE ‘Université de Lyon’. Sa raison d’être essentielle est de fédérer ses partenaires autour de l’acquisition et l’utilisation d’outils avancés en microscopie (microscopes environnementaux, FIB double-colonne) destinés à améliorer la connaissance de la structure de la matière condensée (i.e. des matériaux de structure et multi-fonctionnels) à l'échelle micrométrique, nanométrique jusqu'à l'échelle atomique.

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme CLYM, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

FEI TITAN ETEM

25 jours accès / an

 
  • imagerie sous gaz, pression < 30 mbar
  • Porte-Objets (PO) de chauffage 900°C (milieux oxydant ou réducteur)
  • HREM corrigée
  • HRSTEM (HAADF)
  • EELS - EDX
  • Nano-compression in situ
  • TEM environnemental TITAN G2 80-300 kV avec correcteur image (résolution TEM < 0.1 nm à 80 et 300 kV - logiciel de reconstruction FEI ‘through-focus series’ - ; résolution STEM 0.13 nm à 300 kV)
  • Détecteurs STEM HAADF / ADF ‘DF2-DF4’, BF
  • Système EDX SDD (55 mm²) X-max Oxford Instruments
  • GIF haute résolution Tridiem Gatan Ers ; résolution 0.7 eV (modes EELS et STEM-EELS)
  • Mode environnemental gaz < 25 mbar compatible mode hydraté ; gaz admissibles CxHy, O2, N2,…
  • Porte-objet double-tilt ±45° / ± 35°
  • Porte-objets chauffants Gatan inconel et tantale (environ 900°C) ; porte-objet chauffant ‘MEMS-chips’ DENS Solutions S5 (haut tilt ± 72°, Tmax 1300°C).
  • Porte-objet tomographique 80° Fischione ; logiciel d’acquisition tomographie XPlore 3D et scripts ‘maisons’
  • Porte-objet de nano-compression Hysitron PI95 compatible mode environnemental (gaz)
  • Caméra 4K haute rapidité Gatan OneView (100 fps/2K) ; dispositif cartographie cristallographique ‘4DSTEM’.

 

  • Observations Haute Résolution corrigée, STEM et STEM atomique (non corrigé)
  • Cartographies EDX
  • Spectroscopie EELS (core-loss edges), STEM-EELS et correction PCA
  • IN situ en nano-déformation (nano-compression)
  • TEM Environnemental gaz (réactions physico-chimiques, transformation de phases, réactivité de surface, oxydo-réduction, catalyse,…)
  • Tomographie standard et tomographie rapide en mode ‘ETEM’

 

ZEISS NVision40

20 jours accès / an

 

  • Préparation FIB de lames TEM
  • Colonne Gemini SEM FEG 100 V- 30 kV (résolution 1.1 nm)
  • Système ’Dual Beam‘
  • Colonne FIB Gallium SEIKO SII 1 - 30 kV (résolution 4 nm)
  • Gas Injection System 5 entrées (C, W, SiOx, H2O, XeF2)
  • 2 Micro-manipulateurs Klocke
  • Détecteurs SE-in lens, BSE in-lens, ions secondaires
  • EBSD NordlyS 2S Oxford Instruments
  • Système EDX SDD (50 mm²) X-max Oxford Instruments
  • Détecteur STEM
  • Générateur de balayage externe (FIB/SEM) FIBICS
  • Flood gun

 

 

 

  • Préparation de lamelles FIB pour MET
  • Imagerie SE, BSE et ionique
  • Analyse chimique EDX 2D et 3D
  • Analyse 3D-FIB
  • Toutes classes de matériaux inorganiques (métalliques, céramiques, polymères et nano-composites…)

 

MEB FEI XL30

25 jours accès / an

 

  • MEB in-situ (environnemental, traction)
  • Colonne SEM FEG 200 V- 30 kV (résolution 2 nm à 30 kV haut vide, 4 nm à 7 Torr)
  • Détecteurs SE / BSE et spécifiques environnementaux 10 Torr (modes liquide, gaz)
  • Système EDX SDD (50 mm²) X-max Oxford Instruments
  • Détecteur STEM
  • Platines chauffantes FEI 1000 et 1500°C
  • Platine de traction (250 daN)

 

 

  • Observations SEM standard Haut Vide, analyse chimique EDX
  • Observations environnementales gaz et atmosphère hydraté, mode liquide, hautes températures
  • Tomographie en SEM et ESEM
  • Matériaux inorganiques (métalliques, céramiques, polymères et nano-composites) et  biologiques (en mode humide et/ou hydraté)