IRMA

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La Fédération de Recherche CNRS 3095 « IRMA », Institut de Recherche sur les matériaux avancés, a été créée au 1er janvier 2008 par le CNRS, l’ENSICAEN, l’INSA de Rouen et les Universités de Caen et de Rouen. Elle a pour missions entre autres de faciliter le développement de recherches communes entre les équipes de la fédération, notamment sur les oxydes et matériaux à propriétés remarquables, de développer et maintenir une plateforme technologique d’analyse et de caractérisation microscopiques à l’échelle ultime, par Microscopie électronique en transmission et Sonde atomique, de niveau mondial.

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

JEOL ARM 200

20 jours accès / an

 
  • HREM & HRSTEM corrigées
  • STEM-EDS atomique
  • 80 et 200 kV – CFEG
  • Correcteur image et sonde
  • STEM - HAADF (résolution 0.08 nm @ 200 keV) (résolution 0.136 nm @ 80 keV)
  • HREM (résolution 0.08 nm @ 200 keV) (résolution 0.136 nm @ 80 keV)
  • Caméras Gatan USC1000 + Orius 200
  • EDX Centurio (JEOL) avec diaphragmes dédiés
  • P.O simple tilt, P.O. double tilt, P.O. double tilt N2
  • Cristallochimie sur poudre, films minces
  • Oxydes, intercroissances complexes
  • Oxychalcogénures
  • Chalcogénures
  • Interfaces
  • Catalyse
  • Matériaux pour l'énergie
  • Nanoparticules

ZEISS NVision40

50 jours accès / an

 

  • Préparation d’échantillons pointes pour analyse sonde
  • SEM FEG 200 V- 30 kV (Résolution : 1.5 nm)
  • Système ’Dual Beam ‘
  • Colonne FIB Gallium SEIKO SII
  • Cabinet GIS avec Pt, W airlock
  • Manipulateur Kleindiek (Rotip)
  • Détecteurs SE-in lens, BSE in-lens, ions secondaires
  • EBSD NordlySS Oxford Instruments pour acquisitions 2D et 3D
  • Détecteur STEM
  • Système de décontamination Evactron
  • Flood gun
  • Système de compensation champ magnétique GATAN FCS 12

 

  • Imagerie SE, BSE et ionique
  • Analyse chimique EDS 2D et 3D
  • Analyse 3D-FIB
  • Préparation d’échantillon sur zone d’intérêt (lame mince MET pointe de sonde atomique)
  • Application aux alliages métalliques, semi-conducteurs, isolants…

SAT FLEXTAP

50 jours accès / an

 

  • Analyse chimique à l’échelle atomique matériaux métalliques et mauvais conducteurs
 
  • Détecteur aDLD de 77mm
  • Laser à longueur d'onde variable ( 1030nm, 515nm et 343nm)
  • Température échantillon : 18-100K
  • Haute résolution en masse
  • Résolution latérale 0.3 nm
  • Résolution en profondeur 0.09 nm
  • Semi-conducteurs
  • Verres
  • Oxydes
  • Isolants
  • Alliages métalliques

 

SAT CAMECA LEAP 4000 HR

50 jours accès / an

 

  • Analyse chimique à l’échelle atomique matériaux métalliques
 
  • Mode électrique Local electrodeTM
  • limite de détection 50 ppm
  • Résolution en masse (échantillon Al) : FWHM = 1000
  • Fréquence de pulse max. : 200 kHz
  • Vitesse d’acquisition maximale : > 2 M d’atomes / min
  • Température minimale : d’échantillon : 25 K
  • Champ de vision : ± 33°, environ 250 nm
  • Volume moyen analysé : 150 × 150 × 500 nm3
  • Alliages métalliques

JEOL 2010

50 jours accès / an

 

  • Cristallographie par les électrons
  • Transitions de phase en température
  • 200 kV – LaB6
  • Caméra Gatan Orius 200
  • EDX INCA
  • P.O simple tilt, P.O. double tilt, P.O. double tilt H2/N2/Chauffant
  • Précession (système ASTAR)
  • Cristallochimie sur poudre, films minces
  • Oxydes, intercroissances complexes
  • Oxychalcogénures
  • Chalcogénures
  • Interfaces
  • Catalyse
  • Matériaux pour l'énergie
  • Nanoparticules