CEMES

CEMES

Le centre des matériaux et études structurales (CEMES), unité propre du CNRS, propose une expertise en microscopie électronique en transmission et en préparation de lames FIB.

Les thématiques scientifiques du CEMES, en lien avec la MET, concernent les propriétés mécaniques, magnétiques, optiques ou électroniques de nanoparticules, nanofils, films minces ou matériaux massifs. Les techniques utilisées permettent l'étude de ces matériaux jusqu’à l’échelle atomique pour l’analyse structurale et chimique.
Plus spécifiquement, différentes expériences sont dédiées à la cartographie des champs (magnétique, électrique, de déformation) et à l’application in-situ de stimuli externes sur les échantillons (traction, chauffage, indentation...).
La combinaison de porte-objets dédiés et de techniques de préparation d’objets par FIB permet d’imaginer de nouvelles configurations expérimentales.
Le CEMES possède également une activité de développements instrumentaux et méthodologiques ainsi que de logiciels spécifiques pour le traitement quantitatif des données (Images MEHR, STEM-HAADF, Hologrammes, CBED, ...)  qu'il met au service des utilisateurs.

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accès via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent être trouvées sur les sites ouèbes de la plateforme, ou en contactant la responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

FEI-SACTEM

50 jours accès / an

  • HREM corrigée
  • Holographie électronique
  • STEM-EELS
  • EFTEM

 

 

  •  100-200 kV - SFEG
  • Correcteur image C-COR
  • résolution spatiale < 0.12 nm (200 kV)
  • résolution en STEM 1nm
  • Biprisme
  • GIF Tridiem (0.7 eV)
  • Camera Gatan 2K x 2K
  • Imagerie haute résolution quantitative
  • Holographie magnétique
  • STEM-EELS/EFTEM
  • Interfaces
  • Oxydes
  • Matériaux pour l'énergie
  • Matériaux magnétiques
  • Matériaux semiconducteurs
  • Matériaux 2D

 

Hitachi I2TEM

50 jours accès / an

 

  • Microscopie interférentielle
  • Microscopie in-situ
  • HREM corrigée
  • EELS- EFTEM

 

  • CFEG 80-200-300 kV
  • Correcteur image B-COR
  • Résolution spatiale <0,08 nm (300kV)
  • 4 biprismes
  • Caméra 4K oneview
  • GIF Quantum ER (0.3 eV)
  • Portes objets in situ (T°C, Traction, nanoindentation, champ magnétique, …)
  • Holographie électrostatique et magnétique
  • Cartographie des déformations
  • Imagerie haute résolution quantitative
  • STEM-EELS/EFTEM
  • Interfaces
  • Oxydes
  • Matériaux pour l'énergie
  • Matériaux magnétiques
  • Matériaux semiconducteurs
  • Matériaux 2D

 

FIB Hélios

50 jours accès / an

 

  • Préparation FIB de lames TEM
  •  FMEB-FEG Zeiss (Résolution : 1.1 nm)
  • Colonne ionique Orsay Physics (Résolution : 5 à 7 nm)
  • Ions Ga/aussi
  • Micro-manipulateur Kleindiek
  • GIS de Pt, W et XeF2
  • Oxydes
  • Matériaux pour l'énergie
  • Matériaux magnétiques
  • Matériaux semiconducteurs

 

JEOL 2010

50 jours accès / an

 

  • Manipulation in-situ sous contrainte et/ou en température
  • 200 kV – LaB6
  • Porte objet in situ, T°C, traction, …
  • Caméra SIS Megaview III 1392x1040 (20 images/s)

 

 

  • Alliages métalliques
  • Plasticité
  • Mécanismes de déformation
  • Défauts
  • Matériaux pour l’électronique
  • Matériaux pour l’aéronautique